| 型号： | SN74LVTH182512DGGR | RoHS： | 无铅 / 符合 |
|---|---|---|---|
| 制造商： | Texas Instruments | 描述： | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
详细参数 |
数值 |
|---|---|
| 产品分类 | 集成电路 (IC) >> 逻辑 - 专用逻辑 |
| SN74LVTH182512DGGR PDF |  |
| 标准包装 | 1 |
| 系列 | 74LVTH |
| 逻辑类型 | ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 |
| 电源电压 | 2.7 V ~ 3.6 V |
| 位数 | 18 |
| 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 64-TFSOP （0.240"，6.10mm 宽） |
| 供应商设备封装 | 64-TSSOP |
| 包装 | 剪切带 (CT) |
| 产品目录页面 | 1003 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名称 | 296-8698-1 |